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半導體晶圓缺陷檢測設備

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更新時間：2024-06-16 16:54:17瀏覽次數：157次

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產品簡介

晶圓檢測設備：可檢測多種缺陷：2D圖形檢測（劃傷、背崩、DIE丟失、破裂、崩邊、色差、開裂、劃偏、金屬殘留、金屬缺失等），2D關鍵尺寸 檢測（Pad便捷、關鍵位置尺寸）。

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