廣東皓天檢測儀器有限公司
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高效冷熱沖擊試驗箱，半導體器件可靠性測試
專為半導體器件可靠性測試設計，采用創新制冷與加熱技術，箱體結構緊湊穩固，內部空間合理規劃，可同時容納多種規格半導體器件進行測試。設備搭載智能控制系統，支持遠程操作與數據實時監控，配備高清觸控顯示屏，操作界面簡潔直觀，便于用戶快速設置測試參數、查看測試進度與結果。
高效冷熱沖擊試驗箱，半導體器件可靠性測試
用途
高效冷熱沖擊試驗箱，半導體器件可靠性測試
技術參數
溫度范圍：高溫區高可達 200℃，低溫區低可達 -70℃
溫度波動度：±0.5℃
溫度均勻度：±2℃
冷熱轉換時間：≤5 秒（全程平均，含風門切換、風速調節等動作時間）
沖擊溫度范圍：-60℃ ～ +150℃
升溫速率：≥5℃/min
降溫速率：≥5℃/min
工作室尺寸：（可定制，常規尺寸）600mm×500mm×500mm
電源要求：AC380V±10% 50Hz
應用領域
集成電路：對各類芯片、集成電路板進行可靠性測試，保障電子產品核心部件的性能穩定。
功率器件：如 IGBT 模塊、MOSFET 等，確保其在不同環境溫度下的正常工作與安全性能。
傳感器：用于檢測溫度傳感器、壓力傳感器等半導體傳感器在環境下的精度與可靠性。
光電器件：包括發光二極管（LED）、激光二極管等，評估其在冷熱沖擊下的光學性能與使用壽命。
產品特點
高效快速：采用制冷制熱系統與智能控制算法，實現快速的冷熱沖擊轉換，大幅縮短測試周期，提高檢測效率。
精準控溫：高精度溫度傳感器與 PID 智能控溫技術，確保箱內溫度精準穩定，滿足半導體器件測試對溫度控制的嚴苛要求。
安全可靠：具備多重安全保護裝置，如超溫報警、漏電保護、壓縮機過載保護等，保障設備與人員安全；設備運行穩定，故障率低，維護方便。
靈活定制：可根據客戶不同的測試需求，定制工作室尺寸、溫度范圍、測試程序等，滿足多樣化測試場景。
數據管理：支持測試數據的自動記錄、存儲與導出，方便用戶進行數據分析與報告生成，為產品研發與質量控制提供有力依據。
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